Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
1

Precipitation, aggregation, and diffusion in heavily arsenic-doped silicon

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.01 MB
english, 1994
3

Preparation and characterization of Au-SiO2 radio frequency co-sputtered thin films

Рік:
1976
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.64 MB
english, 1976
4

Characterization of titanium nitride films deposited onto silicon

Рік:
1982
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.49 MB
english, 1982
5

Ion-implanted TiN films as diffusion barriers in silicon device technology

Рік:
1985
Мова:
english
Файл:
PDF, 599 KB
english, 1985
7

On the assessment of local stress distributions in integrated circuits

Рік:
1993
Мова:
english
Файл:
PDF, 573 KB
english, 1993
9

Low temperature dopant activation of BF2implanted silicon

Рік:
1991
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.12 MB
english, 1991
11

Dopant and carrier concentration in Si in equilibrium with monoclinic SiP precipitates

Рік:
1996
Мова:
english
Файл:
PDF, 674 KB
english, 1996
12

heavily implanted silicon

Рік:
1992
Мова:
english
Файл:
PDF, 527 KB
english, 1992
17

A numerical investigation of the 1783 landslide-induced catastrophic tsunami in Scilla, Italy

Рік:
2016
Мова:
english
Файл:
PDF, 6.71 MB
english, 2016
22

Oxygen and implanted ion profiles in oxidized zirconium

Рік:
1981
Мова:
english
Файл:
PDF, 555 KB
english, 1981
23

Arsenic ion implantation through Mo and Mo silicide layers for shallow junction formation

Рік:
1992
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.38 MB
english, 1992
25

A color video presentation of simulated high resolution lattice images

Рік:
1984
Мова:
english
Файл:
PDF, 170 KB
english, 1984
26

Preparation of silicon cross-sectional specimens for TEM observation

Рік:
1984
Мова:
english
Файл:
PDF, 95 KB
english, 1984
27

A computer programme for an automated electron microprobe to solve X-ray interferences

Рік:
1984
Мова:
english
Файл:
PDF, 87 KB
english, 1984
28

High resolution electron microscopy observations of precipitates in p-supersaturated silicon

Рік:
1984
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.76 MB
english, 1984
29

A preparation technique for TEM cross-sections of test structures with reduced feature size

Рік:
1988
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.10 MB
english, 1988
31

Characterization of TiOx films and their application as antireflection coatings for silicon solar cells

Рік:
1981
Мова:
english
Файл:
PDF, 1004 KB
english, 1981
32

Analysis of crystal defects by transmission electron microscopy

Рік:
1979
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.34 MB
english, 1979
33

Investigation of amorphous a-Si:H/a-Si1−xCx:H multi-quantum-well structures

Рік:
1989
Мова:
english
Файл:
PDF, 354 KB
english, 1989
35

Recent findings in silicon doping with phosphorous

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 82 KB
english, 1994
37

Damage and recovery in doped SOI layers after high energy implantation

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 256 KB
english, 2004
40

The use of scenarios to evaluate the tsunami impact in southern Italy

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.31 MB
english, 2003
43

Investigation of strain distribution in LOCOS structures by dynamical simulation of LACBED patterns

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 777 KB
english, 1999
44

Editorial

Рік:
1996
Мова:
english
Файл:
PDF, 58 KB
english, 1996
45

TEM/CBED determination of strain in silicon-based submicrometric electronic devices

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.42 MB
english, 2000
46

Preface

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 18 KB
english, 2000
47

Metastability of Si1−yCy epilayers under 2 MeV α-particle irradiation

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 177 KB
english, 2000
49

Single-force point-source static fields: an exact solution for two elastic half-spaces

Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.45 MB
english, 1998